DIN EN 62047-13-2012 半导体装置.微机电装置.第13部分:测量MEMS结构粘接强度的折弯和剪切试验方法(IEC62047-13-2012).德文版本EN62047-13-2012
时间:2024-05-05 17:00:15 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9204
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part13:Bend-andshear-typetestmethodsofmeasuringadhesivestrengthforMEMSstructures(IEC62047-13:2012);GermanversionEN62047-13:2012
【原文标准名称】:半导体装置.微机电装置.第13部分:测量MEMS结构粘接强度的折弯和剪切试验方法(IEC62047-13-2012).德文版本EN62047-13-2012
【标准号】:DINEN62047-13-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-10-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:粘接切边强度;粘结强度;弯曲试验;抗弯强度;定义;微电子学;微系统工艺;半导体器件;剪切强度;抗剪试验;系统工程;试验
【英文主题词】:Adhesiveshearstrength;Adhesivestrength;Bendtesting;Bendingstrength;Definitions;Microelectronics;Microsystemtechniques;Semiconductordevices;Shearstrength;Sheartests;Systemengineering;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:17P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:Statisticalmethodsforuseinproficiencytestingbyinterlaboratorycomparisons
【原文标准名称】:多个实验室间比较的方法测定熟练度的统计方法
【标准号】:JISZ8405-2008
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2008-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,JISQ0043(すべてのパート)を補足するものであり,技能試験スキームから得たデータを解析するためにオーガナィザが使用する適切な統計的手法の詳細を説明し,当該スキーム中の参加者及び認定団体による実際の使用に関する勧告を与える。この規格は,試験所が得た測定結果が,許容できないレべルのかたよりの証拠を表しているものではないことを証明するために適用する。(同等性の証明に適用できるが,同等性をもたないことの証明には用いることができない。)これは,定量的データに適用できるが,定性的データには適用できない。
【中国标准分类号】:A41
【国际标准分类号】:03_120_30
【页数】:72P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Methodsforcreepandrupturetestingofmetals-Tensilestressrelaxationtesting
【原文标准名称】:金属蠕变及断裂试验方法.第6部分:拉伸应力松弛试验
【标准号】:BS3500-6-1969
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1969-10-20
【实施或试行日期】:1969-10-20
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验条件;尺寸;试样;应力松弛;抗拉试验;设计;机械试验;金属;试验设备
【英文主题词】:testspecimens;testingconditions;dimensions;metals;stressrelaxation;mechanicaltesting;design;testequipment;tensiletesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:H22
【国际标准分类号】:77_040_10
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语